国外传感器网 > 图书 > CMOS图象传感器封装与测试技术

CMOS图象传感器封装与测试技术


http://www.intl-sensor.com    时间:2008/5/6 16:12:27    点击3518次
CMOS图象传感器封装与测试技术

作者: 陈榕庭     出版社: 电子工业出版社

本书首先介绍整个半导体封装业的历史及演进过程,然后以光感芯片为例说明晶圆厂的芯片制造过程,光感应芯片的应用范围、结构及各种常见的cmos模块种类等。具体内容涉及了材料使用、设备及各工序简介、缺陷模式及热效应分析、产品可靠性的测试方法,最后阐述了目前cmos光感测试的最新技术及多样化工序。

 

联系方式

北京博隆嘉兴科贸有限公司
地址:北京市崇文区安化北里2号院1号楼东方财富512室
邮编:100062
电话:010-67114885/67124125/67152280
传真:010-67124125
中文实名:国外传感器网
http://www.intl-sensor.com
E-mail:pcb@intl-sensor.com

相关关键词:
CMOS图象传感器封装与测试技术
国外传感器网 版权所有
© Copyright By WWW.INTL-SENSOR.COM All Right
业务咨询:010-67152280/67114885/67124125
客户服务:pcb@intl-sensor.com  物联网技术支持:pcb@intl-sensor.com
京ICP备07000717号
京公网安备110101000113号