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CMOS图象传感器封装与测试技术


http://www.intl-sensor.com    时间:2008/5/6 16:12:27    点击3703次
CMOS图象传感器封装与测试技术

作者: 陈榕庭     出版社: 电子工业出版社

本书首先介绍整个半导体封装业的历史及演进过程,然后以光感芯片为例说明晶圆厂的芯片制造过程,光感应芯片的应用范围、结构及各种常见的cmos模块种类等。具体内容涉及了材料使用、设备及各工序简介、缺陷模式及热效应分析、产品可靠性的测试方法,最后阐述了目前cmos光感测试的最新技术及多样化工序。

 

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